當測試設備和自動(dòng)測試設備ATE系統用來(lái)測試分立半導體時(shí)，他們經(jīng)常需要一個(gè)可以承載高脈沖電流的開(kāi)關(guān)設備而且不會(huì )被高脈沖電流扭曲。脈沖電流用來(lái)證實(shí)這些設備在測試時(shí)可以處理高和/或大量電流而不會(huì )脫落。高脈沖電流證實(shí)芯片與基片是足夠緊的。同時(shí)，可能需要高壓來(lái)抵抗高切換電壓。使用干簧繼電器實(shí)現數億次成功脈沖操作的目標。

特點(diǎn)

? 超過(guò)10億次的操作包括脈沖承載電流
? 體型小
? 能夠承載高達5安培的脈沖電流
? 能夠轉換至1000瓦
? 通過(guò)觸點(diǎn)的絕緣強度3000瓦
? 圓形引線(xiàn)在漏洞使可以更好粘結
? 接頭動(dòng)態(tài)測試

應用

? 測試功率分立半導體，如功率場(chǎng)效應管，場(chǎng)效應管，功率晶體管。

脈沖高電流

當測試分立半導體時(shí)，特殊的功率設備（晶體管，場(chǎng)效應管等等），高電流測試是非常重要的因素。而且，由于每一個(gè)元件都經(jīng)過(guò)多次試驗，需要不同電壓，電流和檢測設備之間的絕緣是關(guān)鍵。所以選擇電流轉換裝置需要很長(cháng)的時(shí)間。由于開(kāi)關(guān)設備壽命中經(jīng)常開(kāi)關(guān)成千上萬(wàn)次，所以可靠性是開(kāi)關(guān)設備的關(guān)鍵。機電設備在承載高電流上做的很好但是100萬(wàn)次操作之后就開(kāi)始損毀。半導體開(kāi)關(guān)裝置一般來(lái)說(shuō)不能同時(shí)在一個(gè)芯片里支撐高電流和高電壓，因此，就從這些開(kāi)關(guān)需求中被排除。