在某些極端條件下，測試大功率半導體分立器件時(shí)可能需要高達100安培的脈沖電流進(jìn)行測試，主要是測試器件能否承載極端電流而不失效。同時(shí)，也可以驗證電源芯片是否充分的貼合其基底。還可以測試其耐受電壓。由于每個(gè)組件都需要進(jìn)行多個(gè)測試，需要不同的電壓，電流和檢測設備，因此與每個(gè)測試的隔離至關(guān)重要。一般隔離都是通過(guò)開(kāi)關(guān)設備來(lái)實(shí)現。由于開(kāi)關(guān)設備需要不斷執行開(kāi)關(guān)動(dòng)作，次數可超過(guò)數億次，因此，開(kāi)關(guān)設備的可靠性尤為重要。機電設備在承載高電流方面效果很好，但在100萬(wàn)次操作后開(kāi)始機械磨損。半導體開(kāi)關(guān)器件通常不能同時(shí)支持一個(gè)芯片中的高電流和高電壓。鑒于上述原因，設計人員已經(jīng)利用Standex-Meder一些系列的干簧繼電器來(lái)解決之前出現的問(wèn)題。

以Standex-Meder的SIL HV系列干簧繼電器為例，其開(kāi)關(guān)電壓可達1000V，由于使用真空干簧開(kāi)關(guān)，其介電強度可達3000V以上。該系列產(chǎn)品可以將低電平信號切換到數十億次的操作，并且可以承載相同次數的高電流脈沖，可承載持續3安培電流，通過(guò)繼電器可以承載5安培的脈沖電流5毫秒，而不會(huì )對其前沿或后沿產(chǎn)生失真。對于較高的脈沖電流，建議在線(xiàn)圈通電后至少等待5毫秒，然后再施加高脈沖電流。脈沖電流可以讓設計者判斷芯片是否完整，確定芯片是否準確的放置在基底上以確保其高效的運行。所以，問(wèn)題的關(guān)鍵在于如何使用一個(gè)僅經(jīng)過(guò)5安培電流的繼電器，完成經(jīng)過(guò)半導體器件達100安培脈沖電流的測試。設計人員只需將20個(gè)Standex-Meder干簧繼電器與一個(gè)功率電阻并聯(lián)使用，并與每個(gè)繼電器觸點(diǎn)串聯(lián)。電阻器通過(guò)20個(gè)繼電器均等地分配100安培電流，從而實(shí)現高電流脈沖的成功操作。

Standex-Meder的SIL系列、BE系列、LI系列干簧繼電器與SIL HV系列同樣使用完全密封的干簧開(kāi)關(guān)，封裝在高強度的塑料中，可適應不同的環(huán)境，在寬溫度范圍內仍能夠穩定工作，具有數億次操作，非常的經(jīng)濟可靠。

圖1 SIL HV繼電器物理布局圖

特點(diǎn)：

?超過(guò)十億次大電流脈沖操作

?小尺寸

?可承載高達5安培的脈沖電流

?開(kāi)關(guān)電壓可達1000V

?觸點(diǎn)上的介電強度為3000V

?接觸可動(dòng)態(tài)測試

應用：

?適于測試功率半導體分立器件，比如TVS管

?適用于測試功率MOS管、浪涌保護器、功率晶體管等

SIL HV技術(shù)規范

（1）線(xiàn)圈特性

?線(xiàn)圈電阻典型值為220Ω

?正常線(xiàn)圈工作電壓典型值為5.0V

?最大吸合電壓為3.0V

?最小脫扣電壓為0.5V

（2）荷載特性

?最大觸點(diǎn)額定功率為100Watts

?最大開(kāi)關(guān)電壓、電流和載流分為1000V、1.0安培和3.0安培

?擊穿電壓最小為3000V

?最長(cháng)運行時(shí)間和釋放時(shí)間分為0.75ms、100μs

?工作溫度范圍為-20℃～85℃

?儲存溫度范圍為-30℃～100℃